Sekundärneutralteilchen Massenspektrometer (SNMS)
Analyse dünner Schichten, Bestimmung chemischer Elemente in einem Tiefenprofiel (Konzentrationsprofil), Tiefenauflösung im nm-Bereich
Firma: SPECS
Modell: INA-X
Verantwortlich:
Thomas Peter
Analyse dünner Schichten, Bestimmung chemischer Elemente in einem Tiefenprofiel (Konzentrationsprofil), Tiefenauflösung im nm-Bereich
Firma: SPECS
Modell: INA-X
Verantwortlich:
Thomas Peter