Laborgeräte

Thermische Analyse mit sehr hohen Heiz- und Kühlraten von 100 bis 40000 K/s

Firma: Mettler Toledo Modell: Flash DSC 2+

Thermische Analyse 30-1400 °C, c_p

Firma: Netzsch
Modell: DSC 404 F3 Pegasus, DSC 404 cell

Aufschmelzverhalten, Kontaktwinkel, Viskositätsfixpunkte

Firma: Hesse Instruments, Osterode

Aufschmelzverhalten, Kontaktwinkel, Viskositätsfixpunkte

Firma: Leitz

Temperaturbehandlung

In-situ Bestimung von Kristallisations- und Schmelzverhalten

Firma: Yonekura

Temperaturen von -40 °C bis 150 °C bei 30% bis 95% r.F.

Firma: ESPEC
Modell: SH-241

Bestimmung der Wärme- und Temperaturleitfähigkeit, inerte Atmosphäre, bis 1500 °C

Firma: Netzsch Modell: LFA 427

Heiztisch bis 1500 °C, Beobachtung des Temperaturverhaltens im Mikroskop; Kristallisation, Schmelzen, Probenmasse max. 150 mg

Firma: Linkam Modell: TS1500

Thermischer Ausdehnungskoeffizient, Glastransformationstemperatur

Firma: TA Instruments
Modell: DIL 806

Differentialthermoanalyse, Thermogravimetrie und Erfassung der entweichenden Gase

Firma: Netzsch

Gravimetrische Analyse mit simultaner Differentialthermoanalyse

Firma: Mettler Toledo, Modell: TGA/DSC 3+

Viskosität, Balkenbiegegeometrie

Firma: Bähr Thermoanalyse
Modell: VIS 401

Viskosität, Parallel-Plattengeometrie bzw. Kugelindentor

Firma: Bähr Thermoanalyse
Modell: VIS 404

Viskosität

Firma: Thermo Scientific
Modell:  HAAKE MARS III

Scherviskosität

Firma: Haake
Modell: RV 20

Bestimmung der Scherviskosität von Glasschmelzen bis zu 1540 °C.

Firma: Anton Paar
Modell: FRS 1600

3D-Ansicht, Topografie, Oberflächenrauheit, Vermessung

Firma: Keyence Modell: VK-9710

Topografie, 3D-Ansicht, Strukturen, LIBS Analytik (Laser Induced Breakdown Spectroscopy)
Firma: Keyence
Modell: VHX-7000N mit 20-2000x Objektiv und LIBS-Materialanalyse Einheit EA-300

Verantwortlich:
Hansjörg Bornhöft

Messmethoden: SEM, STEM, EBSD, EDX

Firma: FEI
Modell: Nanolab 600

Transmission, Reflexion, 1 - 25 µm

Firma: Bruker
Modell: VERTEX 70

Auflicht und Transmission, Optische Analyse

Firma: Leica, Olympus, Zeiss

Messung der Spannungsdoppelbrechung an transparenten Materialien (linear/zirkular polarisiertes Licht)

Firma: Ilis GmbH
Modell: StrainScope flex convertible

Konfokales Raman-Mikroskop, 532 nm Laser

Firma: WITec
Modell: alpha300R

Elektronenmikroskopie mit EDX

Firma: Zeiss
Modell: EVO 50

Atomkonzentrationsprofile, nm-Tiefenauflösung

Firma: SPECS
Modell: INA-X

Chemische Analyse von An- und Kationen in wässrigen Lösungen

Firma: Dr. Lange
Modell: CADAS 100

Farbortbestimmung in verschiedenen Farbräumen

Firma: ColorLite
Modell: sph850

Transmission, Reflexion, 190 - 1100 nm

Firma: Analytik Jena
Modell: SPECORD 200

Solare Transmission, Reflexion, 250 - 3000 nm, Integrationskugel

Firma: PerkinElmer
Modell: LAMBDA950

Oberflächentopografie, Oberflächenrauheit, 8 mm laterales Sichtfeld

Firma: FRT
Modell: WLI PL

Dichtebestimmung, Keimdichte

Firma: POROTEC
Modell: Pycnomatic-ATC

Messung des Glanzwinkels unter 20° 60° 85°, Reflexion der Oberfläche

Firma: BYK Gardner
Modell: micro-TRI-gloss

Kontaktwinkelbestimmung auf Oberflächen, Oberflächenspannung

Firma: dataphysics
Modell: OCA 15plus

Korngrößenverteilung im Bereich 0,04µm-2000µm

Firma: Coulter
Modell: LS 230

Firma: Zwick/Roell
Modell: zwickiLine Z2.5 Härte-Prüfmaschine (ZHU 2.5)

Oberflächenrauhigkeit, Schichtdicke, Sputtertiefe

Firma: Bruker
Modell: DektakXT Advanced System (DXT-A)

Bestimmung der Schallgeschwindigkeit und der elastschen Konstanten

Firma: Krautkramer Branson
Modell: USD 15 S

Reaktionsverläufe, E-Modul

Firma: UltraTest
Modell: Ultrasonic- Multiplex- Tester IP-8

Kristallphasen, Tief/Hochtemperaturkammer (-190 bis 1200 °C), dünne Schichten

Firma: Panalytical
Modell: Empyrean

Kristallstruktur

Firma: Panalytical
Modell: Empyrean

Chemische Analysen ab Ordnungszahl 4

Firma: Bruker AXS
Modell: S4 pioneer